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产品信息
产品名称：EDX600增强型
产品型号：EDX600增强型
生产厂商：天瑞
产品数量：不限
产品单价：电议
详细介绍

EDX600增强型是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行*检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

Ｘ射线荧光镀层测厚仪


技术参数：

测量元素范围：       13铝AI～92铀U之间的元素均可测量
同时检测镀层及元素     可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素
检出限           金属镀层分析*薄可达0.005μm 
厚度范围          分析镀层厚度一般在50μm以内
厚度测试精度        <5%
含量测试范围        0.1%--99.9%
含量检测精度        ＜0.5%
稳定性           多次测量重复性可达1%
检测时间          5-40秒
高压单元          进口大功率高压单元
探测器及分辨率       140±5eV 大窗口SDD半导体Be窗探测器
X射线装置          100W高功率微聚光W靶光管
多道分析器         DMCA数字多道分析技术，分析道数4096道 
准直器和滤光片标配     标配Φ0.2mm;选配 0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.3mm或其他孔径
*小测试直径        Al或Ni滤光片Ф0.1mm
样品观察          工业级高敏感摄像头，图像可放大30倍，实现微小样品清晰定位
样品移动平台        手动高精度移动平台
对焦            手动测距对焦
分析方法          FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法
安全性           FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法
外型尺寸          用户安全

样品室尺寸         497（W）×427（D）×468（H）mm

              415（W）×374（D）×218（H）mm

操作环境温湿度       0~30℃，湿度≤70%
工作电源          交流220±5V







硬件配置：
采用高分辨率的SDD探测器，分辨率高达140EV
进口的大功率高压，让Ag,Sn等镀层的测量能更
加稳定。
配备微聚焦的X光管，犹如给发动机增加了涡轮
增压，让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择：
0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3m
m。贴心打造出*适合您的那一款



设计亮点：
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标
键盘不再成为必须，极大减少您摆放样品的时
间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现
了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补
正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱
形，螺纹，曲面等）的异型测试面的*测试。
结论：经实测，EDX600增强型针对镀层厚度分析，尤其是微小样品的厚度检测，有着非常*的稳定性与精密
度，去测试效果可以与高倍数的电子显微测试精度媲美。


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